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氦質(zhì)譜正壓檢漏法

常用氦質(zhì)譜檢漏儀檢漏分真空檢漏、正壓檢漏和壓力- 真空檢漏3 種情況。由于運(yùn)載火箭從填裝燃料到完成飛行任務(wù),絕大部分時(shí)間是在大氣環(huán)境中處于待發(fā)狀態(tài),飛行時(shí)間很短,

只要保證周圍不起火、不爆炸、燃料充足即可,所以宜采用正壓檢漏法。衛(wèi)星、飛船等航天器,從填裝介質(zhì)到完成飛行任務(wù),絕大部分時(shí)間是在真空環(huán)境中飛行,壽命為幾天、幾年、

幾十年??發(fā)射前在地面停留時(shí)間就顯得太短了,所以采用壓力- 真空法。對于一側(cè)是大氣,另一側(cè)是真空狀態(tài)的被檢件應(yīng)采用真空檢漏法。

 1、正壓檢漏

正壓檢漏的方法很多,比如:氣泡法,鹵素吸槍法,鹵素?zé)舴?氦質(zhì)譜檢漏儀吸槍法,四極質(zhì)譜吸槍法,同位素法??而靈敏度較高、用的較廣的是氦質(zhì)譜檢漏儀吸槍法。

1.1、壓力及介質(zhì)種類對漏率的影響

盡量模擬工況是檢漏工作者的努力方向。100 %模擬是困難的,有時(shí)甚至是不可能的。比如:高壓、高溫、低溫??有的產(chǎn)品在檢漏設(shè)計(jì)時(shí)只允許低壓、常溫,而工作時(shí)卻在不同部位同時(shí)出現(xiàn)高壓、

高溫和低溫狀態(tài)。

1.2、氦質(zhì)譜檢漏儀吸槍法

氦質(zhì)譜檢漏儀吸槍法有二種方式,即移動嗅探式和氦罩累積式。前者只能定性檢測大漏,后者則可定量檢測微漏。只要具有一個(gè)適合的正壓校準(zhǔn)漏孔,給出漏率、校準(zhǔn)溫度、溫度系數(shù)、

氣體種類和不確定度等,就可以測量并計(jì)算出工況下的漏率。在用吸槍探測中應(yīng)保持吸槍小孔環(huán)境的清潔,濕度大時(shí)不宜直接在低溫環(huán)境中測,否則會造成吸槍小孔的阻塞,給出的檢漏.

結(jié)果過于樂觀,造成漏率偏小的假象,這是十分危險(xiǎn)的,必須要經(jīng)常用正壓校準(zhǔn)漏孔進(jìn)行比對。

1.2.1、吸槍移動嗅探法

將吸槍用軟管接到氦質(zhì)譜檢漏儀上,并與檢漏儀一起調(diào)整到較好的檢漏狀態(tài)。首先用吸槍對正壓校準(zhǔn)漏孔出氣口進(jìn)行掃描,注意吸槍口與正壓校準(zhǔn)漏孔出氣口的距離和移動速度。在正壓

檢漏時(shí)要以類似的距離和移動速度進(jìn)行嗅探,然后用信號比對法判定大致漏率,這種方法可以較準(zhǔn)確定位漏孔。必要時(shí)要進(jìn)行壓力、溫度和濃度等修正。

1.2.2、氦罩累積法

如果被檢件漏率很小,直接用吸槍移動嗅探法得不到信號,必須用氦罩累積法。在正壓檢漏時(shí),小被檢件可以用氦罩整個(gè)罩住;大而復(fù)雜的被檢件可用多個(gè)小罩局部罩住待檢部位。用吸槍探測

出罩內(nèi)本底和累積信號,扣除本底后即為累積凈信號,采用下述公式進(jìn)行計(jì)算

2、注意事項(xiàng)

氦罩要專門設(shè)計(jì),一般用金屬制作(塑料布在長時(shí)間累積中滲透量太大) 。如果累積時(shí)間短,也可用0.10～0.15 mm的塑料布制作。檢測時(shí)氦罩應(yīng)盡量小,以便提高氦的壓升率。氦罩要密封。

探測口要方便檢測。檢漏過程中,儀器靈敏度和吸槍在校準(zhǔn)后不得進(jìn)行調(diào)整,否則要重新進(jìn)行校準(zhǔn)。吸槍不應(yīng)一直插在檢測口內(nèi),以免影響累積信號。在低溫探測時(shí),環(huán)境濕度應(yīng)盡量降低,被

檢件應(yīng)先加高壓示漏氣體而后降溫,以免小孔阻塞。

氦質(zhì)譜正壓檢漏法在火箭發(fā)動機(jī)、星用高壓氣瓶、飛船零部件等檢漏中得到成功應(yīng)用并正在擴(kuò)大,但有待進(jìn)一步研究和提高,為我國航天事業(yè)的發(fā)展和產(chǎn)品質(zhì)量的提高作出更大貢獻(xiàn)。